SuperViewW1立式非接觸白光干涉儀雙通道氣浮隔振系統(tǒng)設(shè)計，既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣，在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作，可以有效隔絕地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動，同時內(nèi)部隔振系統(tǒng)能夠有效隔絕聲波振動，確保儀器在車間也能正常工作。

SuperViewW1微米級白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器國內(nèi)白光干涉儀的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統(tǒng)的配合下，分辨率可達(dá)0.1nm。測件尺寸可以測到12mm，也可以測到更小的尺寸。

SuperViewW1白光干涉儀器專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量，具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。

?中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀應(yīng)用用途多樣、設(shè)計簡潔，能夠測量不同的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、表面粗糙度和波度，涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的形貌測量應(yīng)用。

中圖儀器SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下，只需要確定起點和終點，即可自動掃描，重建其超光滑的表面區(qū)域，不見一絲重疊縫隙。

基于白光干涉原理，中圖儀器自主研發(fā)生產(chǎn)的SuperViwe W1國產(chǎn)白光干涉儀采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點的擴(kuò)展型相移算法EPSI，單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型，讓3D測量變得簡單。廣泛應(yīng)用于3C電子、微納米材料、微機(jī)電、光學(xué)加工、半導(dǎo)體、超精密加工等行業(yè)中精密元器件的表面粗糙度、幾何輪廓等參數(shù)的測量和分析。

SuperView W3三維白光干涉形貌儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的平整度、粗糙度、微觀幾何輪廓、曲率等。