近年來，面對(duì)持續(xù)高漲的芯片需求，半導(dǎo)體行業(yè)生產(chǎn)迎來了高難度挑戰(zhàn)——對(duì)芯片工藝要求更精細(xì)，從5nm到3nm，甚至是2nm?！跋冗M(jìn)封裝”的提出，是對(duì)技術(shù)的新要求，也是對(duì)封裝工藝中材料和設(shè)備的全新考驗(yàn)。芯片身上布控著幾千萬根晶體管，而晶體管越小，...

目前，在幾何量測(cè)量中最重要的激光技術(shù)是用廣電轉(zhuǎn)換條紋計(jì)數(shù)等方法來測(cè)量長(zhǎng)度，這種方法具有精度高、速度快、量程大、始于非接觸測(cè)量及自動(dòng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)?；诩す飧缮鎯x技術(shù)的精密角度測(cè)量系統(tǒng)，通過角度轉(zhuǎn)換裝置將角度量轉(zhuǎn)換為可以反映干涉光路中光程差變化的...

一、干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。二、工作原理：(1)干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常...

光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)采用進(jìn)口高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)、進(jìn)口超高精密研磨導(dǎo)軌、雙向可切換恒測(cè)力系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)各種長(zhǎng)度參數(shù)的高精度測(cè)量。通過超精密研磨導(dǎo)軌保證測(cè)量行走的高穩(wěn)定性及直線度，采用進(jìn)口高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)記錄接觸測(cè)量中長(zhǎng)度方向坐標(biāo)...

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以代替多種表面測(cè)量工具及昂貴的組合量規(guī)，能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。它是在三維空間上通過采集點(diǎn)的三維坐標(biāo)來評(píng)定物體幾何形狀，是集光、電、氣、機(jī)械與計(jì)算機(jī)技術(shù)...

測(cè)頭系統(tǒng)是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的數(shù)據(jù)采集傳感器系統(tǒng)，是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，測(cè)頭精度的高低決定了坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的功能、工作效率、精度與測(cè)頭密切相關(guān)。在對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量時(shí)，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)能夠根據(jù)測(cè)頭系統(tǒng)探測(cè)工件，返回工件表面的點(diǎn)數(shù)...

葉片作為發(fā)動(dòng)機(jī)的核心部件，制造工藝復(fù)雜，科技含量高，在研發(fā)過程中遇到的難題很多?？梢哉f發(fā)動(dòng)機(jī)的性能很大程度上取決于葉片型面的設(shè)計(jì)和制造水平。其中航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片是典型的自由曲面零件，它的曲線形狀、制造精度和質(zhì)量直接決定了發(fā)動(dòng)機(jī)的推進(jìn)效率大小和...

形貌儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件...